X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线吸收谱仪是一种利用同步辐射或实验室X射线源，通过测量材料对X射线的吸收特性来探测其原子尺度局域结构及电子态的分析仪器。其核心技术包括X射线近边吸收谱和扩展边精细结构，可精准解析目标元素的化学价态、配位环境、键长及配位数等信息。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

台式x射线吸收谱仪集成了紧凑型高亮度X射线源与高分辨率硅漂移探测器，将XAS实验从大型同步辐射装置“搬入”普通实验室，实现了原位、快速、低成本的材料表征。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪同步辐射X射线吸收近边结构主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。