台式X射线吸收谱仪 是一种采用常规实验室X射线光源（而非同步辐射），可在普通实验室内完成X射线吸收精细结构测量的桌面型分析仪器。它的目标是在非同步辐射光源的条件下，实现对材料局部原子结构的快速、便捷表征。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪同步辐射X射线吸收近边结构主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

扩展x射线吸收精细结构谱仪主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线吸收精细谱仪是一种基于同步辐射光源的大型科学实验装置，它通过精确测量材料在特定元素吸收边附近对X射线的吸收系数随光子能量的变化规律（即X射线吸收精细结构，XAFS），来获取该元素原子尺度的局部结构信息。

台式XAFS(x射线吸收精细结构谱仪)​​是一种实验室级小型化设备，能够在常规实验室内实现X射线吸收精细结构（XAFS）的测量与分析。其核心目标是通过紧凑设计和高集成度技术，将传统依赖同步辐射光源的XAFS实验转移到桌面环境中，突破大型设施的机时限制和高昂成本。