X射线吸收谱仪是一种利用同步辐射或实验室X射线源，通过测量材料对X射线的吸收特性来探测其原子尺度局域结构及电子态的分析仪器。其核心技术包括X射线近边吸收谱和扩展边精细结构，可精准解析目标元素的化学价态、配位环境、键长及配位数等信息。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

台式X射线吸收谱仪 是一种采用常规实验室X射线光源（而非同步辐射），可在普通实验室内完成X射线吸收精细结构测量的桌面型分析仪器。它的目标是在非同步辐射光源的条件下，实现对材料局部原子结构的快速、便捷表征。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪同步辐射X射线吸收近边结构主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

扩展x射线吸收精细结构谱仪主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。