TableXAFS是一种基于同步辐射的先进表征技术。当X射线光子能量接近并超过材料中特定原子内层电子的电离阈值时，其吸收系数会出现阈值之上的精细振荡结构。该振荡来源于出射光电子波与周围邻近原子背散射电子波之间的干涉效应，其结构蕴含着吸收原子周围的局部原子结构信息，包括配位原子种类、距离、配位数及无序度等。

CT型真空紫外光谱仪具备较高的灵敏度和分辨率，能够精确测量微弱的光谱信号，揭示物质更细微的结构和性质。其次，该仪器具备较宽的波长覆盖范围，可以覆盖从近紫外到真空紫外区域的多个波长范围，满足各种研究需求。

真空紫外光谱仪采用Seya- Namioka光路结构，入射狭缝和CCD探测器位于罗兰圆上，可以单色模式和光谱模式切用 。

x射线吸收精细结构（XAFS）谱仪，原位X射线吸收光谱是一种利用同步辐射光源或高性能实验室X射线源，测量并分析材料对X射线的吸收系数随光子能量变化的精细结构的大型实验装置。通过在反应过程中实时监测吸收边的近边（XANES）和扩展边（EXAFS）信号，揭示材料在真实环境中的结构演化规律，为理解构效关系、优化材料设计提供直接依据。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。