TableXAFS是一种实验室级小型化X射线吸收精细结构分析设备，能够在常规实验室内完成材料的局域原子结构表征，其核心特点是摆脱对同步辐射光源的依赖，通过紧凑设计和高性能组件集成，实现与大型同步辐射装置类似的功能，但体积更小、成本更低、操作更灵活。

CT型真空紫外光谱仪具备较高的灵敏度和分辨率，能够精确测量微弱的光谱信号，揭示物质更细微的结构和性质。其次，该仪器具备较宽的波长覆盖范围，可以覆盖从近紫外到真空紫外区域的多个波长范围，满足各种研究需求。

真空紫外光谱仪采用Seya- Namioka光路结构，入射狭缝和CCD探测器位于罗兰圆上，可以单色模式和光谱模式切用 。

RapidXAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

原位X射线吸收光谱通过在反应过程中实时监测吸收边的近边（XANES）和扩展边（EXAFS）信号，揭示材料在真实环境中的结构演化规律，为理解构效关系、优化材料设计提供直接依据。