X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

CT型真空紫外光谱仪具备较高的灵敏度和分辨率，能够精确测量微弱的光谱信号，揭示物质更细微的结构和性质。其次，该仪器具备较宽的波长覆盖范围，可以覆盖从近紫外到真空紫外区域的多个波长范围，满足各种研究需求。

采用Seya- Namioka光路结构，入射狭缝和CCD探测器位于罗兰圆上，可以单色模式和光谱模式切用 。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。