CT型真空紫外光谱仪具备较高的灵敏度和分辨率，能够精确测量微弱的光谱信号，揭示物质更细微的结构和性质。其次，该仪器具备较宽的波长覆盖范围，可以覆盖从近紫外到真空紫外区域的多个波长范围，满足各种研究需求。

真空紫外光谱仪采用Seya- Namioka光路结构，入射狭缝和CCD探测器位于罗兰圆上，可以单色模式和光谱模式切用 。

x射线吸收精细结构（XAFS）谱仪，原位X射线吸收光谱是一种利用同步辐射光源或高性能实验室X射线源，测量并分析材料对X射线的吸收系数随光子能量变化的精细结构的大型实验装置。通过在反应过程中实时监测吸收边的近边（XANES）和扩展边（EXAFS）信号，揭示材料在真实环境中的结构演化规律，为理解构效关系、优化材料设计提供直接依据。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线吸收谱仪是一种利用同步辐射或实验室X射线源，通过测量材料对X射线的吸收特性来探测其原子尺度局域结构及电子态的分析仪器。其核心技术包括X射线近边吸收谱和扩展边精细结构，可精准解析目标元素的化学价态、配位环境、键长及配位数等信息。