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产品简介
x射线吸收精细结构(XAFS)谱仪,原位X射线吸收光谱是一种利用同步辐射光源或高性能实验室X射线源,测量并分析材料对X射线的吸收系数随光子能量变化的精细结构的大型实验装置。通过在反应过程中实时监测吸收边的近边(XANES)和扩展边(EXAFS)信号,揭示材料在真实环境中的结构演化规律,为理解构效关系、优化材料设计提供直接依据。
| 品牌 | 创谱specreation | 应用领域 | 环保,化工,生物产业,能源 |
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