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XAFS谱仪:常规光源赋能精准光谱测量

更新时间:2025-12-19点击次数:20
X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪(同步辐射X射线吸收近边结构)凭借创新技术设计,突破了传统测量限制,利用常规X光源即可实现XAFS光谱测量。这一特性使其对同步辐射等重大科技基础设施,以及电子显微镜、X射线衍射仪等科学仪器形成了较佳的补充与拓展,有效拓宽了X射线光谱测量的应用场景与覆盖范围。
作为一款小型化桌面式系统,该谱仪具备高的易用性,全面适配不同用户的操作需求。设备支持近边快扫功能,大幅提升测量效率;同时兼容原位测试等扩展功能,可满足多样化的实验场景需求。在设计上,采用人体工学高度设计,让操作更符合人体习惯,降低长时间操作的疲劳感;内置实验参数预置功能,能够快速启动测量流程,减少参数调试时间;针对不同样品、不同测量模式,可实现一键自动切换,简化操作步骤。此外,仪器支持远程数据传输,能实时显示实验进程与结果,可开展无人值守测试,进一步提升实验便利性与灵活性。更值得一提的是,设备配备专业的应用技术支持与数据分析支持,助力用户高效完成实验研究;同时具备辐射豁免资质和多重安全防护联锁,全面保障人身与使用安全。
专用弯晶作为谱仪的核心部件,彰显了设备的精准适配能力。其不同晶面配置齐全,可实现各个元素的测量覆盖,适配多领域元素分析需求;采用预准直安装设计,实现即插即用,大幅降低安装调试难度;还可根据用户所需测量元素定制特殊弯晶,确保设备达到最佳测量性能,精准匹配个性化实验需求。
能量扫描机构则为精准测量提供了核心保障。该机构采用联动设计,能够实现光源、弯晶、样品和探测器的精密联动,确保各部件协同工作;具备高精度、高分辨率的显著优势,且运行稳定性好,可有效保障测量数据的准确性与可靠性,为实验研究提供坚实的数据支撑。