X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

CT型真空紫外光谱仪具备较高的灵敏度和分辨率，能够精确测量微弱的光谱信号，揭示物质更细微的结构和性质。其次，该仪器具备较宽的波长覆盖范围，可以覆盖从近紫外到真空紫外区域的多个波长范围，满足各种研究需求...

采用Seya- Namioka光路结构，入射狭缝和CCD探测器位于罗兰圆上，可以单色模式和光谱模式切用 。

⾼分辨平场光谱仪，采⽤全息凹球⾯变线距光栅进⾏分光，具有平场特性，便于使⽤⾯阵CCD记录光谱。光栅⼯作在掠⼊射模式下，衍射效率⾼，同时通过选⽤不同的光栅型号，可以实现波⻓范围1~30nm的全覆盖。

平场光谱仪，采用全息凹球面变线距光栅进行分光，具有平场特性，便于使用面阵CCD记录光谱。光栅工作在掠入射模式下，衍射效率高，同时通过选用不同的光栅型号，可以实现波长范围0.6~200nm的全覆盖。

台式X射线吸收谱仪作为一种非破坏性的分析技术，在材料科学、化学、生物学等领域具有广泛的应用前景。其高精度、高灵敏度的特点以及简单易用、自主可控等优势使得它成为科研工作者揭示物质微观世界的得力工具。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪同步辐射X射线吸收近边结构主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

扩展x射线吸收精细结构谱仪主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪吸收边迁移主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。