台式x射线吸收谱仪集成了紧凑型高亮度X射线源与高分辨率硅漂移探测器,将XAS实验从大型同步辐射装置“搬入”普通实验室,实现了原位、快速、低成本的材料表征。
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Product CenterX射线吸收精细结构(XAFS)谱仪同步辐射X射线吸收近边结构主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化,广泛应用于诊断材料的局域特性,例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。
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