X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪同步辐射X射线吸收近边结构主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

扩展x射线吸收精细结构谱仪主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线精细结构谱是一种通过分析材料对X射线的吸收边附近及高能区的精细振荡，揭示目标原子局域结构与化学环境的高精度表征技术。其核心分为​​X射线近边吸收谱​​和​​扩展边精细结构。

台式XAFS(x射线吸收精细结构谱仪)​​是一种实验室级小型化设备，能够在常规实验室内实现X射线吸收精细结构（XAFS）的测量与分析。其核心目标是通过紧凑设计和高集成度技术，将传统依赖同步辐射光源的X...

衍射光栅是一种由周期性排列的狭缝或凹槽构成的光学器件，基于​​多光束干涉与衍射原理​​，将入射光按波长精确分离，形成清晰的光谱。

双PMT探测器是一种使用两个光电倍增管作为探测元件的装置。PMT是一种真空电子器件，具有高灵敏度和高增益的特点。当光阴极面受到光照后，由于光电效应会释放出光电子，这些光电子在倍增级中实现连续的倍增，从...

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪XANES主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线近边吸收谱作为X射线吸收光谱的核心组成部分，是研究材料局域电子结构、化学态及配位环境的强有力工具，为理解构效关系、优化材料设计提供直接依据。

配位结构表征是化学领域中用于描述和定义配位化合物空间结构和特性的重要手段。它涉及对配位物的空间排列方式、中心原子与配位体之间的相互作用以及整体稳定性的详细分析。

CT型真空紫外光谱仪 极紫外光源，采⽤Czerny-Turner光学结构，可以在空间上将复⾊光分成⼀系列单⾊光，系统由平⾯衍射光栅、前后准直聚焦镜及CCD探测器组成。