台式X射线吸收谱仪集成了紧凑型高亮度X射线源与高分辨率硅漂移探测器，无需依赖同步辐射装置，即可在实验室内实现​​快速、原位​​的原子尺度结构分析。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪同步辐射X射线吸收近边结构主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

扩展x射线吸收精细结构谱仪主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线精细结构谱是一种通过分析材料对X射线的吸收边附近及高能区的精细振荡，揭示目标原子局域结构与化学环境的高精度表征技术。其核心分为​​X射线近边吸收谱​​和​​扩展边精细结构。

台式XAFS将同步辐射级原子尺度表征能力浓缩至实验室桌面，通过集成​​高亮度微焦斑X射线源​​与​​高灵敏度多级探测器​​，实现无需同步辐射光源的​​快速、原位​​元素局域结构解析。

衍射光栅是一种由周期性排列的狭缝或凹槽构成的光学器件，基于​​多光束干涉与衍射原理​​，将入射光按波长精确分离，形成清晰的光谱。

双PMT探测器是一种使用两个光电倍增管作为探测元件的装置。PMT是一种真空电子器件，具有高灵敏度和高增益的特点。当光阴极面受到光照后，由于光电效应会释放出光电子，这些光电子在倍增级中实现连续的倍增，从...

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪XANES主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线近边吸收谱仪聚焦于材料X射线吸收边前50~100 eV能量区间，通过分析吸收边形状、白线强度及前边共振特征，精准解析目标元素的​​化学价态、电子结构及近程配位环境​​。

配位结构表征是化学领域中用于描述和定义配位化合物空间结构和特性的重要手段。它涉及对配位物的空间排列方式、中心原子与配位体之间的相互作用以及整体稳定性的详细分析。