X射线近边吸收谱仪

产品简介

X射线近边吸收谱仪是一种用于研究物质电子结构的技术设备。它利用光子的能量与物质内部电子能级的差异，通过测量X射线在物质中被吸收的能量来分析物质的电子结构。

更新时间：2024-09-12

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分析测试仪器

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品牌	创谱specreation	应用领域	环保,化工,生物产业,能源
能量范围	4.5-20keV	能量分辨率	0.5-1.5eV(7-9keV,近边)
X射线光源	1.2-1.6kW闭管	光通量	1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV
单色器晶体	直径100mm,球面半径500mm(Si/Ge))	探测器	SDD探测器
自动样品轮	16工位

　　一、工作原理

　　X射线近边吸收谱仪利用光子的能量与物质内部电子能级的差异，通过测量X射线在物质中被吸收的能量来分析物质的电子结构。在X射线近边吸收光谱中，每种元素的吸收谱线都具有不同性，这使得我们能够通过这种技术来准确鉴定物质中元素的种类和数量。此外，该技术还能用于研究物质的物理和化学性质，如电子结构的变化、化学键的形成和断裂等。

　　二、工作特点

　　小型化桌面式系统，易于使用：

　　1.支持近边快扫功能；

　　2.支持原位测试等扩展功能；

　　3.人体工学高度设计，操作更便捷；

　　4.内置实验参数预置，实现快速测量；

　　5.不同样品、不同测量模式一键自动切换；

　　6.远程数据传输，实时显示实验进程和结果支持无人值守测试；

　　7.专业的应用技术支持和数据分析支持；

　　8.仪器具有辐射豁免资质和多重安全防护联锁，保证人身和使用安全。

　　XAFS专用弯晶：

　　1.不同晶面配置齐全，实现各个元素覆盖；