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Product CenterX射线近边吸收谱仪是一种用于研究物质电子结构的技术设备。它利用光子的能量与物质内部电子能级的差异,通过测量X射线在物质中被吸收的能量来分析物质的电子结构。
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能量范围 | 4.5-20keV | 能量分辨率 | 0.5-1.5eV(7-9keV,近边) |
X射线光源 | 1.2-1.6kW闭管 | 光通量 | 1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV |
单色器晶体 | 直径100mm,球面半径500mm(Si/Ge)) | 探测器 | SDD探测器 |
自动样品轮 | 16工位 |