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配位结构表征

产品简介

X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪 配位结构表征主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化,广泛应用于诊断材料的局域特性,例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

更新时间:2024-04-24
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品牌创谱仪器应用领域环保,化工,生物产业,能源
能量范围4.5-20keV能量分辨率0.5-1.5eV(7-9keV,近边)
X射线光源1.2-1.6kW闭管光通量1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV
单色器晶体直径100mm,球面半径500mm(Si/Ge))探测器SDD探测器
自动样品轮16工位

X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪 配位结构表征,利用常规X光源实现X射线吸收精细结构(XAFS)的光谱测量,对同步辐射等重大科技基础设施及电子显微镜、X射线衍射仪等科学仪器具有很好的补充和拓展作用。该产品目前已被北京大学、北京航空航天大学、天津大学、华北电力大学、青海大学、安徽大学等众多高校选购,有效助力相关科学研究和应用开拓!

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小型化桌面式系统,易于使用:

· 支持近边快扫功能;

· 支持原位测试等扩展功能;

· 人体工学高度设计,操作更便捷;

· 内置实验参数预置,实现快速测量;

· 不同样品、不同测量模式一键自动切换;

· 远程数据传输,实时显示实验进程和结果支持无人值守测试;

· 专业的应用技术支持和数据分析支持;

· 仪器具有辐射豁免资质和多重安全防护联锁,保证人身和使用安全。


XAFS专用弯晶:

· 不同晶面配置齐全,实现各个元素覆盖;

· 预准直安装,即插即用;

· 可根据需要元素定制特殊弯晶,达到最佳性能。


X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪 配位结构表征能量扫描机构:

· 联动扫描机构;

· 实现光源、弯晶、样品和探测器的精密联动;

· 精度和分辨率高,稳定性好。



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