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产品简介
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪吸收边迁移主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。
| 品牌 | 创谱specreation | 应用领域 | 环保,化工,生物产业,能源 |
|---|---|---|---|
| 能量范围 | 4.5-20keV | 能量分辨率 | 0.5-1.5eV(7-9keV,近边) |
| X射线光源 | 1.2-1.6kW闭管 | 光通量 | 1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV |
| 单色器晶体 | 直径100mm,球面半径500mm(Si/Ge)) | 探测器 | SDD探测器 |
| 自动样品轮 | 16工位 |
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪吸收边迁移，利用常规X光源实现X射线吸收精细结构（XAFS）的光谱测量，对同步辐射等重大科技基础设施及电子显微镜、X射线衍射仪等科学仪器具有很好的补充和拓展作用。该产品目前已被北京大学、北京航空航天大学、天津大学、华北电力大学、青海大学、安徽大学等众多高校选购，有效助力相关科学研究和应用开拓！
小型化桌面式系统，易于使用：
· 支持近边快扫功能；
· 支持原位测试等扩展功能；
· 人体工学高度设计，操作更便捷；
· 内置实验参数预置，实现快速测量；
· 不同样品、不同测量模式一键自动切换；
· 远程数据传输，实时显示实验进程和结果支持无人值守测试；
· 专业的应用技术支持和数据分析支持；
· 仪器具有辐射豁免资质和多重安全防护联锁，保证人身和使用安全。
XAFS专用弯晶：
· 不同晶面配置齐全，实现各个元素覆盖；
· 预准直安装，即插即用；
· 可根据需要元素定制特殊弯晶，达到最佳性能。
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪吸收边迁移能量扫描机构：
· 联动扫描机构；
· 实现光源、弯晶、样品和探测器的精密联动；
· 精度和分辨率高，稳定性好。
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