X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪XANES主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线近边吸收谱作为X射线吸收光谱的核心组成部分，是研究材料局域电子结构、化学态及配位环境的强有力工具，为理解构效关系、优化材料设计提供直接依据。

配位结构表征是化学领域中用于描述和定义配位化合物空间结构和特性的重要手段。它涉及对配位物的空间排列方式、中心原子与配位体之间的相互作用以及整体稳定性的详细分析。

CT型真空紫外光谱仪 极紫外光源，采⽤Czerny-Turner光学结构，可以在空间上将复⾊光分成⼀系列单⾊光，系统由平⾯衍射光栅、前后准直聚焦镜及CCD探测器组成。

CT型真空紫外光谱仪 探测器研究，采⽤Czerny-Turner光学结构，可以在空间上将复⾊光分成⼀系列单⾊光，系统由平⾯衍射光栅、前后准直聚焦镜及CCD探测器组成。