TableXAFS是一种实验室级小型化X射线吸收精细结构分析设备，能够在常规实验室内完成材料的局域原子结构表征，其核心特点是摆脱对同步辐射光源的依赖，通过紧凑设计和高性能组件集成，实现与大型同步辐射装...

CT型真空紫外光谱仪具备较高的灵敏度和分辨率，能够精确测量微弱的光谱信号，揭示物质更细微的结构和性质。其次，该仪器具备较宽的波长覆盖范围，可以覆盖从近紫外到真空紫外区域的多个波长范围，满足各种研究需求...

真空紫外光谱仪采用Seya- Namioka光路结构，入射狭缝和CCD探测器位于罗兰圆上，可以单色模式和光谱模式切用 。

⾼分辨平场光谱仪，采⽤全息凹球⾯变线距光栅进⾏分光，具有平场特性，便于使⽤⾯阵CCD记录光谱。光栅⼯作在掠⼊射模式下，衍射效率⾼，同时通过选⽤不同的光栅型号，可以实现波⻓范围1~30nm的全覆盖。

平场光谱仪，采用全息凹球面变线距光栅进行分光，具有平场特性，便于使用面阵CCD记录光谱。光栅工作在掠入射模式下，衍射效率高，同时通过选用不同的光栅型号，可以实现波长范围0.6~200nm的全覆盖。

RapidXAFS主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

原位X射线吸收光谱通过在反应过程中实时监测吸收边的近边（XANES）和扩展边（EXAFS）信号，揭示材料在真实环境中的结构演化规律，为理解构效关系、优化材料设计提供直接依据。

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。

X射线吸收谱仪是一种利用同步辐射或实验室X射线源，通过测量材料对X射线的吸收特性来探测其原子尺度局域结构及电子态的分析仪器。其核心技术包括X射线近边吸收谱和扩展边精细结构，可精准解析目标元素的化学价态...

X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。