X射线吸收谱仪利用常规X光源实现X射线吸收精细结构（XAFS）光谱测量，对同步辐射等重大科技基础设施及电子显微镜、X射线衍射仪等科学仪器具有良好的补充拓展作用，丰富科研检测技术支撑。该仪器采用小型化桌面式设计，兼具易用性与高性能，核心优势特性如下：
一、小型化桌面式系统：便捷易用核心优势
系统采用小型化桌面式设计，降低使用门槛、适配多场景，具体优势：
-支持近边快扫功能，提升测量效率；
-支持原位测试等扩展功能，拓宽应用；
-人体工学高度设计，操作便捷；
-内置实验参数预置，快速启动测量；
-样品/测量模式一键切换，简化操作；
-远程数据传输，实时显示进程结果，支持无人值守；
-专业应用技术与数据分析支持，保障实验推进；
-具备辐射豁免资质与多重安全联锁，保障人身与使用安全；
二、XAFS专用弯晶：优异性能适配
配备XAFS专用弯晶，通过精准配置与定制，保障测量覆盖与精度，特性如下：
-晶面配置齐全，覆盖全元素测量；
-预准直安装，即插即用，简化调试；
-可定制特殊弯晶，适配元素需求，确保最佳性能；
综上，该谱仪凭借便捷操作、丰富功能及优异核心性能，在补充拓展现有科研仪器功能的同时，为XAFS光谱测量提供灵活、安全、高效的解决方案。
更新时间：2026-01-13
点击次数：43
当前位置：
